FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
Description du marché
1 FIB-SEM dual-beam system As part of the procurement process, a field-free (without immersion optics) focused ion beam system (FIB-SEM) combined with a high-resolution scanning electron microscope (SEM) is to be selected. The system will be used for patterning, nanostructuring, and cross-sectional and surface analysis of primarily III/V semiconductors, LNOI, polymers and resists, as well as process products typical of semiconductor technology. Programmable and automated routines should be configurable where possible. Options - Advanced training course for 15 days (2 people); availability to be confirmed as required - 1 gas injection system with additional components; to be specified in the tender - Software module for importing KLAF files
Analyse du marché
Ce marché de type Fournitures est passé par Procédure négociée avec publication.
Durée du contrat : 12 mois.
Ce projet bénéficie d'un cofinancement de l'Union européenne.
Lieu d'exécution : Berlin (DE300).
Pouvoir adjudicateur
Contexte et conseils
Procédure négociée — l'acheteur sélectionne un nombre limité de candidats et négocie directement avec eux. Accès restreint mais moins de concurrents en lice.
Les critères portent généralement sur le prix, la qualité du produit, les délais de livraison et le service après-vente.
Le secteur Machines industrielles représente 7 453 marchés publiés en 2026 (8 912 en 2025) dans notre base. L'activité est légèrement en retrait par rapport à 2025.
Comment répondre
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