Award notice
Instruments de mesure
🇪🇺 TED
Scanning Electron Microscope
🌍 Finlande
Description du marché
Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The SEM to be purchased will replace our current LEO 1550 used since 1997.
Valeur estimée
556 000 EUR
Procédure
Appel d'offres ouvert
Nature du contrat
Fournitures
Lieu d'exécution
Joensuu (FI1DC)
Lauréat
Spectral AB
Pouvoir adjudicateur
🏛
Itä-Suomen yliopisto, Kuopio
📋
Organisme de droit public
Gratuit · Sans carte bancaire
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