Un microscope électronique à balayage en série

Description du marché

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à balayage en série conçu pour l'imagerie à haute résolution de coupes minces en série et la microscopie électronique à balayage en série (SBF-SEM). Le système doit inclure un ultramicrotome facilement démontable pour l'automatisation des coupes et de l'imagerie en série. Ce microscope sera utilisé par des groupes de recherche principalement dans le domaine des sciences de la vie et sera installé au Centre de microscopie électronique (CIME) de l'EPFL. Exigences minimales : MEB à haute résolution avec imagerie par électrons secondaires et rétrodiffusés Mode d'imagerie à faible vide ultramicrotome intégré in situ pour la coupe et l'imagerie automatisées de blocs de surface Imagerie sérielle automatisée et acquisition de données pour la reconstruction 3D Techniques avancées d'atténuation des charges pour minimiser les distorsions d'image des échantillons susceptibles d'être chargés Logiciel convivial pour l'alignement, le traitement et l'analyse des images.

Pouvoir adjudicateur