Skenovací elektronový mikroskop s vysokým rozlišením a s analýzou prvkového a fázového složení a krystalografické orientace

Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu (SEM) s detektory EDS a EBSD k povrchové analýze pevných látek s mikro- až nanometrovým rozlišením umožňujícího charakterizaci morfologie a mikrostruktury, prvkového a fázového složení a krystalografické orientace ve vodivých i nevodivých vzorcích.

Criterion: Type: Quality Name: Technické parametry nabízeného plnění Description: Nabídky budou hodnoceny podle dosažených parametrů v části "B. Scored parameters" přílohy č. 6 zadávací dokumentace. Hodnoty jednotlivých parametrů uvede účastník zadávacího řízení do sloupce označeného "Offered value / feature" v jednotkách uvedených ve sloupcích "Parameter" resp. "Scoring". 234033-2026 Page 2/5 Category of award fixed criterion: Fixed value (total) Award criterion number: 14 876 000

Electron microscopes